| 一种采用单双跳变的低功耗确定性BIST方案 |
| 张建伟;丁秋红;周彬;滕飞;马万里;王政操;陈晓明;李志远; |
| 关键词：扭环计数器;低功耗;确定性;测试向量生成器;单跳变 |
| 主要内容：为实现低功耗和高故障覆盖率,基于单跳变测试技术和2-bit扭环计数器,提出一种新型的单双跳变的确定性测试向量产生器.首先,与一般的确定性测试方案直接存储确定性种子不同,利用ROM存储控制信号并通过单双跳变生成确定性种子和确定性测试向量,这样 |
| 《哈尔滨工业大学学报》 2016,48(11):96-102 |
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