| 针对逻辑门功能异常的VLSI故障仿真方法研究 |
| 戴金玲;许爱强;王栋;唐小峰; |
| 关键词：超大规模集成电路(VLSI)测试;故障建模;故障仿真;故障覆盖率;变异真值表(M |
| 主要内容：为准确评价测试集对超大规模集成电路(VLSI)内部故障的覆盖效果,提出一种VLSI故障建模与仿真方法。首先,在电路级综合运用仿真和实验手段向逻辑门内部注入多个故障,统计并分析这些故障对其功能的影响以构建由变异真值表(MTT)组成的故障字典; |
| 《国外电子测量技术》 2016,35(09):24-28 |
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