| 0.35μm CMOS工艺的品质因数时域测量电路 |
| 任小娇;张明;LLASER Nicolas;越柏鹤;庄奕琪; |
| 关键词：品质因数;时域测量;片上 |
| 主要内容：基于品质因数的时域测量方法,提出了一种新的可以片上集成的品质因数测量电路,不仅在特定频率能实现品质因数的精确测量,还可在保持电路精度的前提下,覆盖一定待测信号的频带.在采用之前提出的可重构电路的基础上,改进了峰值探测器的补偿方式,进行了系统 |
| 《西安电子科技大学学报》 2017,44(02):75-80 |
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