| 25μm微型连接盘电测方法探讨 |
| 聂兴培;吴世亮;樊廷慧; |
| 关键词：小批量样板;微型连接盘;电性能测试;检测方案 |
| 主要内容：常规电测技术测试连接盘的最小宽度在100 μm以上。当连接盘宽度小于100 μm时,飞针机探针不能与被测试连接盘正常接触导致测试失败。本文主要从飞针机的精度调校、测试刀具与对位方案的选择、测试程序优化等方面对印制电路板样板中25 μm~10 |
| 《印制电路信息》 2017,25(07):30-37 |
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