| 65nm反相器单粒子瞬态脉宽分布的多峰值现象 |
| 刘家齐;赵元富;王亮;郑宏超;舒磊;李同德; |
| 关键词：单粒子瞬态;多峰现象;65 nm反相器 |
| 主要内容：基于65 nm工艺下单粒子瞬态脉宽检测电路,在重离子辐照下,对目标单元单粒子瞬态脉宽进行了测试。针对实验结果中单粒子瞬态脉宽分布出现多峰的现象进行了分析。详细对比了反相器多峰现象与LET值、温度、阈值电压间的关系。通过TCAD仿真分析了多峰 |
| 《电子技术应用》 2017,43(01):20-23 |
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