| IC测试多工位防呆技术的研究与实现 |
| 刘成惠; |
| 关键词：IC生产测试;软件;硬件;工位接错;开尔文接法;防呆 |
| 主要内容：在IC生产测试中,经常会采取多工位的测试,这样的测试方法会显著提高测试的效率,提高生产量。然而,此种测试也会带来重大的生产隐患,严重时会带来重大的生产事故。采取传统的人员检查检测来预防,效率不高,错误也难以得到根本的避免。针对这一现象,在I |
| 《工业控制计算机》 2017,30(06):45-46+49 |
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