| TMS570的ECC逻辑自诊断机制与实现方法 |
| 刘骋程;宗凯; |
| 关键词：MCU;TMS570;ECC;自诊断;安全关键系统 |
| 主要内容：对TMS570的RAM ECC校验逻辑、Flash ECC校验逻辑、FMC ECC校验逻辑和FEE ECC校验逻辑设计了自诊断流程并给出了详细实现方法,通过操作芯片内部寄存器来故意制造ECC错误进行逻辑自诊断。在多种型号芯片上进行了在线测试 |
| 《单片机与嵌入式系统应用》 2017,17(11):27-29+33 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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