| 边界扫描测试技术在存储器测试中的应用 |
| 杨士宁;顾颖;石雪梅;罗晶; |
| 关键词：边界扫描测试;存储器测试 |
| 主要内容：边界扫描测试技术是一种基于集成电路可测性设计的测试技术,通过对集成电路内部测试寄存器输出响应的分析完成电路系统的测试及故障诊断。它提供了对器件的功能、互连及相互间影响进行测试的接口,极大地方便了对于复杂电路的测试。文章介绍了边界扫描的基本结 |
| 《计算机与数字工程》 2017,45(03):579-582 |
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