| 采用电编程熔丝调节芯片参数的测试流程 |
| 王帆; |
| 关键词：电编程熔丝;参数调节;测试流程 |
| 主要内容：利用电子的迁移特性可以生成一种微小的熔丝结构,这种熔丝结构称为电编程熔丝eFUSE,可以在芯片上编程。为了提高芯片测试的准确性并降低测试成本,eFUSE被广泛的用于芯片的设计中,用来调整芯片的各项参数。本文主要介绍了一种采用eFUSE调节芯 |
| 《电子技术与软件工程》 2017,(07):108 |
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