| 测试过程与管脚结构的相互作用 |
| 李兴鸿;赵俊萍;王勇;方测宝;黄鑫; |
| 关键词：CMOS IC;精密测量单元;测试过程;管脚;相互作用 |
| 主要内容：本文从数字CMOS集成电路的I/O结构、全ESD防护结构、自动测试设备的PMU、恒压源恒流源的原理出发,综合分析了功能测试及PMU测试过程中加压测流和加流测压与IC输入、输出、三态及双向管脚的相互作用,给出了一些测试过程对IC造成影响的可能 |
| 《环境技术》 2017,35(05):58-61 |
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