| 常用逻辑门芯片测试装置研究与设计 |
| 刘艳;唐海贤;景昊;张斌;高茜; |
| 关键词：数字电路;逻辑门;芯片测试;实践教学 |
| 主要内容：结合数字电路相关课程的改革,针对数字电路中常用的74/54系列逻辑门芯片,研究并设计了一种基于单片机最小系统的常用逻辑门芯片测试装置。该装置为电子技术相关理论和实践教学提供了快速、直观、稳定的测试方式,提高了实验室芯片检测的效率与准确率,同 |
| 《实验技术与管理》 2017,34(01):94-97+103 |
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