| 大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用 |
| 章慧彬;朱江; |
| 关键词：集成电路测试程序;ATE;参数测试;功能测试 |
| 主要内容：集成电路测试就是对集成电路进行好坏的判断,通过测量对集成电路的输出响应和预期输出进行比较,以确定或评估集成电路功能和性能的过程。而基于ATE开发完整、稳定、可靠的测试程序,是实现对大规模集成电路自动化快速在线检测最通用、最有效的手段,因此集 |
| 《电子与封装》 2017,17(06):10-15 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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