| 多电源域集成电路静电放电试验方法研究 |
| 姜汝栋;蔡依林;李小亮; |
| 关键词：静电放电;试验方法;多电源域 |
| 主要内容：随着集成电路技术的发展,电路从原来的单一电源域向多电源域进行转移,而其中的静电放电(ESD)试验是考核集成电路性能的一项重要指标,如何有效选择合适的试验方法变得越来越重要。结合国内外相关静电放电试验标准,研究标准之间存在的相同和不同的地方。 |
| 《电子与封装》 2017,17(03):26-28 |
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