| 分层递阶智能控制在IC测试分选机中的应用 |
| 梁达平;赵利民;蔡志元; |
| 关键词：分层递阶控制;专家控制;迭代学习控制;测试分选机 |
| 主要内容：针对目前IC测试分选机因各功能单元之间无协调控制算法而导致的产能竞争冲突问题,在改进型分选机设备中引入了其它行业解决类似问题比较成功的分层递阶控制结构,并在该结构中的组织级控制层采用了智能化程度较高的专家控制策略,在执行级控制层中采用了控制 |
| 《电子工业专用设备》 2017,46(03):26-30 |
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