| 复杂电路功耗自测试方法研究与仿真 |
| 张明亮; |
| 关键词：无关位填充;低功耗内建自测试;电路 |
| 主要内容：对电路分布路径低功耗内建自测试,在电路故障检测方面具有重要意义。电路功耗内建自测时,需对电路构造距离序列进行寻优,传统方法主要通过对电路的X位做低功耗填充,无法对电路构造距离序列进行寻优,导致故障测试结果不准确。提出无关位填充的电路低功耗内 |
| 《计算机仿真》 2017,34(08):433-436 |
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