| 毁损移动智能终端取证技术分级模型研究 |
| 田庆宜;郭弘; |
| 关键词：损毁移动智能终端;芯片取证;分级模型;取证技术途径选择 |
| 主要内容：移动智能终端取证环境日趋复杂,一方面,移动智能终端本身的技术条件及嫌疑人对检材蓄意破坏对取证技术途径和结果均有影响,另一方面,移动智能终端取证技术也得到了飞速发展,不同的技术途径有不同的适用条件和风险,导致遇到检材量较大时难以在实验室人员、 |
| 《信息网络安全》 2017,(02):29-34 |
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