| 基于40nm超大规模SoC芯片存储器测试电路设计与实现 |
| 陈冬明;成建兵;蔡志匡; |
| 关键词：可测性设计;存储器测试;内建自测试;故障模型;测试算法 |
| 主要内容：针对超大规模SoC(System on Chip)芯片中存储器的测试需求,首先分析存储器测试中存在的主要问题,包括新故障模型和新算法的需求、对电路性能的影响、以及测试成本的增加等。针对上述问题,存储器测试电路设计中,综合考虑PPA(Powe |
| 《电子器件》 2017,40(04):813-818 |
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