| 基于BIST方法的新型FPGA芯片CLB功能测试方法 |
| 石超;王健;来金梅; |
| 关键词：现场可编程门阵列;可编程逻辑块;功能测试;内建自测试 |
| 主要内容：新型FPGA普遍使用了6输入查找表以实现可编程逻辑,如Xilinx公司的Virtex 5系列、Ultrascale系列等.由于I/O数量有限,针对这些芯片的CLB功能测试,可选择ILA级联测试法并利用位流回读进行故障定位,但由于CLB存在路 |
| 《复旦学报(自然科学版)》 2017,56(04):488-494 |
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