| 基于C8051的片上调试单元设计 |
| 俞小平;唐映强;李世伟; |
| 关键词：集成电路;片上调试;C8051 |
| 主要内容：随着半导体工艺与集成电路技术的快速发展,微处理器的集成度越来越高,在设计中开发比较大的应用程序时,强劲的调试手段是非常重要的。当bug复杂到无法分析时,只能用调试来追踪它,集成片上调试功能更显得尤为重要。基于C8051 IP设计了一个片上调 |
| 《电子与封装》 2017,17(03):19-21+25 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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