基于Copula理论的芯片多元参数成品率估算方法
 
李鑫;唐洁;肖甫;

关键词:可制造性设计;参数扰动;多元参数成品率估算;Copula理论;鞍点线抽样
 
主要内容:当前芯片参数成品率研究主要局限于单一性能指标成品率估算或对多个单性能指标成品率进行均衡优化.针对此类方法易造成参数成品率缺失的问题,本文提出一种基于Copula理论的芯片多元参数成品率估算方法.该方法首先针对漏电功耗及芯片时延性能指标,构建
 
《电子学报》  2017,45(09):2098-2105
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