| 基于CSMC 0.5微米CMOS工艺加固版图设计及实现 |
| 李湘君; |
| 关键词：可编程计数器;单粒子闩锁;总剂量;双环保护;加固设计;版图设计 |
| 主要内容：随着CMOS电路技术的高速发展,集成密度增大,低功耗设计以及系统芯片也已普及,导致电路更容易受到空间干扰的影响,从而使整个电子系统发生故障,因此有必要对电子元器件的抗总剂量、抗闩锁等能力进行加固设计。采用华晶上华半导体有限公司的0.5微米的 |
| 《微处理机》 2017,38(06):82-85 |
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