| 基于FIB技术攻击芯片主动屏蔽层 |
| 王敏;刘莹;邵瑾;胡晓波;刘亮;赵东艳;张海峰;尹国龙; |
| 关键词：安全芯片;主动屏蔽层;聚焦粒子束;侵入式攻击 |
| 主要内容：安全芯片通常在芯片顶层布满主动屏蔽层,以防止侵入式物理探测、攻击篡改芯片部分功能模块,从而获取芯片内部存储的关键数据和敏感信息。本文提出了一种基于FIB技术攻击芯片主动屏蔽层的方法,对现有静态或动态检测的主动屏蔽层的安全芯片,均可避开主动屏 |
| 《电子技术应用》 2017,43(07):28-31 |
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