| 基于FPGA的集成电路测试系统设计探讨 |
| 潘慧峰; |
| 关键词：FPGA;集成电路;测试系统设计 |
| 主要内容：随着集成电路的功能以及各种参数的大量增加,要想保证电路的可靠性,就必须重视集成电路的测试功能,在传统的测试过程中,对集成电路的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的。这种测试方法测试效率低,无法实现大规模 |
| 《电子测试》 2017,(22):26-27 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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