| 基于J750的MCU芯片测试程序开发与调试 |
| 谭雪;金兰; |
| 关键词：MCU芯片;J750测试机;晶圆;TDS软件;功能测试;频率计数 |
| 主要内容：Teradyne J750测试系统功能强大、测试精度高,是全球装机量最大的自动测试设备。以一款MCU芯片的晶圆级测试为例,主要阐述了其在美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统上的测试方案开发与实现。介绍了J750测试系 |
| 《微处理机》 2017,38(04):23-26 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号