基于NBTI效应的数字型高精度老化监测电路设计
 
姚剑婷;刘画池;贾徭;吴诒轩;王超;张跃军;

关键词:NBTI效应;VCO电路;等精度测量;老化监测
 
主要内容:随着晶体管特征尺寸的减小,负偏压温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)已经成为影响电路老化的关键因素,准确地衡量老化程度是抗老化设计前提条件。通过对NBTI效应和老化监测原理的研
 
《科技通报》  2017,33(02):104-108
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