| 基于NSGA-Ⅱ算法的IP核测试优化研究 |
| 黄俊; |
| 关键词：NSGA-Ⅱ算法;IP核;测试时间;测试功耗 |
| 主要内容：IP核集成化的SoC测试,测试时间与测试功耗是两个相互影响的因素。多目标进化算法能够处理相互制约的多目标优化问题。在无约束条件下,对IP核的测试时间与测试功耗建立联合优化模型,并采用多目标进化算法中的改进型非劣分类遗传算法(Non-domi |
| 《电子设计工程》 2017,25(17):58-61 |
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