| 基于PXI的集成电路测试机的设计研究 |
| 黄瑞;赵春莲; |
| 关键词：集成电路制造;后端测试;PXI |
| 主要内容：基于ATE进行的测试程序开发周期长、开发成本高、设备昂贵,增加了测试成本;采用传统仪器,验证成本较低,但存在仪器众多、仪器间连线混乱、系统调试困难、测试操作繁琐等问题,进行功能验证时对信号的实时捕获存在困难和误差。针对上述问题,设计了一种基 |
| 《集成电路应用》 2017,34(08):67-73 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号