| 基于电信智能卡芯片应用场景的闪存耐久力测试方法 |
| 蒋玉茜;杨利华;王西国; |
| 关键词：闪存;耐久力;应用场景;可靠性测试 |
| 主要内容：半导体制造工艺不断发展和特征尺寸缩小给闪存可靠性带来挑战。闪存可靠性测试与评价越来越重要。闪存可靠性测试是智能卡芯片可靠性测试中的关键测试。本文介绍了电信智能卡芯片在应用场景下的闪存耐久力测试方法。 |
| 《中国集成电路》 2017,26(12):48-51+93 |
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