| 基于多种群改进量子进化算法的3D NoC测试功耗优化 |
| 许川佩;王苏妍; |
| 关键词：三维片上网络;测试功耗;量子进化算法;优体交叉;多种群 |
| 主要内容：针对在测试过程中芯片产生较大的热效应会破坏芯片的可靠性,本文在进行测试规划获得最短测试时间的基础上,将测试时间作为约束,采用多种群改进量子进化算法优化测试功耗,以降低测试成本,防止功耗过高造成芯片不可逆的损坏.算法中,为了避免单一种群不能保 |
| 《微电子学与计算机》 2017,34(08):17-22 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号