| 基于混合遗传蚁群算法的数字微流控芯片测试路径规划 |
| 汪杰君;刘江宽;黄喜军;许川佩;莫玮; |
| 关键词：数字微流控芯片;混合遗传蚁群算法;测试路径规划;时间效率 |
| 主要内容：数字微流控芯片在生化检测领域的应用越来越广泛,为保障芯片的可靠性必须对其进行全面且高效的故障测试。随着芯片规模的扩大,故障测试问题也越来越复杂。针对数字微流控芯片的灾难性故障测试,为提高故障测试方法的时间效率,本文提出了一种基于混合遗传蚁群 |
| 《电子测量与仪器学报》 2017,31(08):1183-1191 |
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