| 基于抗随机性故障分析的高效率可测试设计方法 |
| 白宇峰;吕寅鹏; |
| 关键词：抗随机性故障分析;可测试设计;测试点;测试覆盖率 |
| 主要内容：为了在提高芯片测试覆盖率的同时减少生产测试时的测试向量,提出了一种基于对电路进行抗随机向量故障分析,进而在电路中插入测试点,从而提供芯片的测试效率的方法。实际电路的实验结果表明,使用了该方法的可测性设计,在不损失测试覆盖率的情况下,能够有效 |
| 《电子技术应用》 2017,43(08):40-42 |
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