| 基于容忍SEU单粒子效应的锁存器工作原理分析 |
| 徐亚伟; |
| 关键词：单粒子效应;单粒子翻转;单粒子瞬态;锁存器加固;电路可靠性 |
| 主要内容：随着半导体技术的飞速发展,芯片集成度和性能显著提高,然而电路的可靠性问题却日益突出,并且成为研究人员和芯片制造厂商广为关注的问题.对于面向航空航天应用的电路芯片,空间辐射导致的单粒子效应是影响其可靠性的主导因素.本文比较系统地分析了现有容忍 |
| 《白城师范学院学报》 2017,31(02):68-72 |
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