| 基于时钟的数字电路可重构BIST设计研究 |
| 夏继军; |
| 关键词：数字电路;内建自测试;测试矢量;故障模拟仿真 |
| 主要内容：研究了基于时钟的数字电路可重构内建自测试(BIST)设计。BIST不通过ATE设备加载测试矢量和检测测试响应,通过内置激励电路和响应分析电路来实现。在很大程度上降低了对ATE带宽的要求。当前电路集成度高,整体测试时可观察性和可控制性不理想, |
| 《仪表技术与传感器》 2017,(01):134-138 |
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