| 基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计 |
| 殷凤媛;李翔; |
| 关键词：AT89S52;自动测试仪 |
| 主要内容：设计采用单片机AT89S52为核心元件来实现,以AT89S52为核心的数字电路自动测试仪,可以对常见的74系列数字集成电路进行逻辑功能测试、自动确定其型号和好坏,且用LCD显示其逻辑符号。具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和 |
| 《电子技术与软件工程》 2017,(07):88 |
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