| 集成电路兼容联合测试系统研究 |
| 沈冬梅; |
| 关键词：集成电路;测试;兼容联合;系统 |
| 主要内容：本文介绍了一种针对集成电路产品进行品质检验的测试系统。该测试系统包括待测装置、联合测试(JTAG)接口,以及扫描链电路。扫描链电路包含多个扫描链,且耦接至待测装置以及联合测试接口,其中每一扫描链包括多个扫描D型触发器。电子装置耦接联合测试行 |
| 《山东工业技术》 2017,(24):115 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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