| 面向终端芯片性能测试技术研究 |
| 李雷;郑洋; |
| 关键词：性能测试;终端和芯片;模拟外场 |
| 主要内容：介绍了当前业内流行的几种性能测试方法,并着重展示了一种新颖的模拟外场路测(VDT)方法。通过在VDT系统中模拟并重现典型外场环境,如高铁、弱覆盖等,建立完善的场景库,可以更加全面地考察终端在外场环境下的性能表现,贴近用户实际感知,具有良好的 |
| 《电信网技术》 2017,(12):57-61 |
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