片上网络路由器的测试及其外壳旁路故障的诊断
 
王伟;周梦玲;方芳;郭二辉;陈田;刘军;任福继;

关键词:旁路故障;诊断;片上网络;测试外壳
 
主要内容:目前采用IEEE 1500测试外壳的方法可以一定程度上解决NoC(Netword on Chip)路由器测试的问题,但当测试外壳的旁路出现一个以上的故障时,很可能导致一整条扫描链上的NoC路由器测试失败.针对该问题,本文通过提出一个深度优先
 
《电子学报》  2017,45(03):638-643
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