| 嵌入广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案 |
| 詹文法;吴琼;程一飞;吴海峰; |
| 关键词：内建自测试;折叠集;测试数据压缩;外建自测试;编码 |
| 主要内容：针对芯片测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间的问题,提出一种广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案.首先构建有向图,将完全测试集映射到有向图中;其次查找有向图中最长路径,将完全测试集分割成若干个 |
| 《计算机辅助设计与图形学学报》 2017,29(08):1542-1548 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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