| 双界面智能卡芯片模拟前端ESD设计 |
| 李志国;孙磊;潘亮; |
| 关键词：双界面智能卡;模拟前端(AFE);静电放电(ESD);人体模型(HBM);设计规 |
| 主要内容：双界面智能卡芯片静电放电(ESD)可靠性的关键是模拟前端(AFE)模块的ESD可靠性设计,如果按照代工厂发布的ESD设计规则设计,AFE模块的版图面积将非常大。针对双界面智能卡芯片AFE电路结构特点和失效机理,设计了一系列ESD测试结构。通 |
| 《半导体技术》 2017,42(04):269-274 |
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