产业集群决策
 
通过ECID实现在半导体测试过程中剔除潜在问题芯片
 
武晓捷;
关键词：ECI D;VB;J750;半导体测试
 
主要内容：本文介绍了如何应用ECI D信息,通过VB代码尽早将潜在问题芯片剔除,从而降低半导体测试成本并提高测试效率的方法。
 
《中国集成电路》  2017,26(10):67-69
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