| 微波单片集成电路的失效分析方法探讨 |
| 席善斌;高兆丰;裴选;尹丽晶;彭浩;黄杰; |
| 关键词：微波单片电路;失效分析;显微红外成像;电容击穿 |
| 主要内容：随着通信、雷达产业的迅速发展,微波单片集成电路的应用越来越广泛,其可靠性和失效分析工作迫切需要开展和加强。本文通过对微波单片集成电路的特点分析,以一款微波单片混频器为对象开展了失效分析研究,通过显微红外热成像的方法,将失效点进行了准确定位。 |
| 《环境技术》 2017,35(06):25-29 |
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