| 系统建模与去嵌在RF IC批量测试中的应用 |
| 黄成;文科;叶达;程杰; |
| 关键词：S参数;去嵌入;夹具效应;射频测量;网络分析仪 |
| 主要内容：生产测试中通常使用网络分析仪进行射频集成电路(RF IC)S参数测量。一些表贴封装元器件不能直接与网络分析仪连接,通常使用含夹具的测试系统进行连接测试。在无法提供有效校准件的情况下,提出了利用测试系统建模结合去嵌入的方法,解决了RF IC批 |
| 《微电子学》 2017,47(02):289-292 |
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