| 形式化验证在芯片研发中的应用 |
| 张晓冬;巨鹏锦;濮晨;潘天锲; |
| 关键词:形式验证;UNR;FPV;MFV;ABV |
| 主要内容:在高性能处理器芯片的研发中,风险主要来自芯片的正确性代价成本。如何在流片前及时、彻底地发现设计中潜藏的逻辑错误,保证芯片的可用性、高效性,始终是业内着力解决的问题。本文介绍了当前芯片验证的现状和分析形式验证的必要性,以及如何将形式验证恰当的 |
| 《中国集成电路》 2017,26(09):38-42 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |