| 一款三相可控硅控制器芯片的测试 |
| 张永锋;姜浩;杨影; |
| 关键词：可控硅控制器;DC测试;AC测试;DFT测试;功能测试 |
| 主要内容：介绍了一款自主研发的基于Chartered 0.35μm CMOS工艺的用于三相交流调压和可控整流的可控硅控制器芯片。基于Chroma公司3360D测试台(ATE)对封装后芯片进行了测试,并详细阐述了DC、AC、DFT、功能测试等的测试方法 |
| 《中国集成电路》 2017,26(10):60-66 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号