| 一种低功耗双重测试数据压缩方案 |
| 陈田;易鑫;王伟;刘军;梁华国;任福继; |
| 关键词：测试向量相容;低功耗测试;测试数据压缩;双重压缩 |
| 主要内容：随着集成电路制造工艺的发展,VLSI(Very Large Scale Integrated)电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输入精简技术对原测试集进行预处 |
| 《电子学报》 2017,45(06):1382-1388 |
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