| 一种基于测例层模型的功能验证方法 |
| 谢峥;王明江;雍珊珊;王新安; |
| 关键词：功能验证;测例层模型;RFID;UVM |
| 主要内容：针对集成电路功能验证的完整性和重用性问题,使用测例层模型,构建协议功能完整覆盖的验证计划,并使用UVM验证方法和库函数搭建验证环境,对一款符合GJB 800/900 MHz RFID芯片系统的设计进行功能验证。所提出的测例层模型具备通用性。 |
| 《电子器件》 2017,40(05):1053-1059 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号