| 一种基于遗传算法的多IP核并行测试方法 |
| 谈恩民;贾亚平; |
| 关键词：SoC测试;遗传算法;IP核;并行测试 |
| 主要内容：针对现有SoC测试方法所需测试时间过长的问题,提出了一种基于遗传算法的多IP核并行测试方法.该方法主要是在功耗约束的情况下,通过遗传算法将尽可能多的IP核的测试数据压缩,即IP核的测试数据相同的位接到同一根总线数据位,使每次并行测试的IP核 |
| 《微电子学与计算机》 2017,34(01):71-75 |
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