| 一种新的无触点IC卡的检测方法 |
| 崔浩军; |
| 关键词：IC卡;芯片;COS;EEPROM;检测 |
| 主要内容：无触点IC卡在制卡过程中需要经过绕线碰焊、INLAY层压、成品层压工艺,可能造成芯片EEPROM的损坏,而这种IC卡是不能读写个人化数据的。本文基于上述情况,提出了一种新的在传统的检测仪中通过增加写模块,并设计相应的检测程序来实现检测IC卡 |
| 《电子测试》 2017,(15):36+38 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号