一种新型低功耗抗软错误锁存器
 
张章;周宇澄;刘俊丞;程心;解光军;

关键词:锁存器;软错误;C单元;自恢复
 
主要内容:该文提出一种新型的C单元的连接方法,将距离输出节点比较远的P型和N型晶体管的栅端与C单元的输出节点相连接,利用晶体管自身的反馈机制形成反馈路径,实现了自恢复功能,因此大幅降低动态消耗和硬件开销;采用点加强型C单元作为输出级电路并进行优化,使
 
《电子与信息学报》  2017,39(10):2520-2525
全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp
仿站