| 一种用于ASIC内部存储器单粒子翻转效应评估的方法 |
| 郑宏超;岳素格;王亮;简贵胄;初飞; |
| 关键词：ASIC;SRAM;SEU;MBIST |
| 主要内容：本文提出了利用存储器内建自测试(MBIST)进行专用集成电路(ASIC)内部存储器的单粒子翻转(SEU)检测方法,研究并制定了MBIST的单粒子有效性辐照注量的统计方案,最后在重离子加速器上应用该方法进行了单粒子试验验证.通过与相同结构的存 |
| 《微电子学与计算机》 2017,34(10):22-25 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号